20年行業經驗·提供解決方案
— product center —
本設備使用線掃相機搭配檢測平臺的移動,實現Wafer兩面的外觀及端面檢查,是一臺非常適合在晶圓原材、再生后監控Wafer品質的多功能檢測設備。
Copyright (?) 2021 馬鞍山芯喬科技有限公司 版權所有 皖ICP備2021004626號 網站地圖 技術支持:蘇州網絡推廣